6/28 車用模組功率循環與可靠度量測高峰會

電力電子技術發展至今已經有數十年之久,能源轉換效率不斷提升,特別是功率金氧半場效電晶體 (Power MOSFET) 及絕緣式閘極雙極性電晶體 (Insulated Gated Bipolar Transistor;IGBT) 的發展,其中以 EV/HEV 車用成長趨勢最為顯著,在工業設備、軌道車輛及電源供應器等領域也都有增加的趨勢。高功率模組由於應用環境嚴苛,模組封裝的可靠度問題非常嚴重,而影響可靠度的主要原因之一即來自熱的問題。此次高峰會特別邀請日本Keenus Design分享如何提高ΔTc試驗效率,同時由易富迪科技實驗室負責人分享車用模組量測方法及實際案例,最後也開放功率循環與熱特性量測實驗室參觀,歡迎業界先進踴躍報名參加!